NanoCalc系統(tǒng)適用于多種波長(zhǎng)、多種采樣方式以及光學(xué)厚度（1.0nm-250μm）要求。用戶(hù)可以在4種標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)中（涵蓋~200-1700nm）做出選擇，并且將它們與軟件、反射探頭、光纖和各種附件整合到一起。對(duì)于可見(jiàn)光譜（400-850nm）或者紫外可見(jiàn)光譜（250-1050nm）的應(yīng)用，用戶(hù)可以通過(guò)選擇預(yù)配置的系統(tǒng)，使操作更加便利。這個(gè)預(yù)配置的系統(tǒng)包括NanoCalc，反射探頭、樣品臺(tái)、標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階膜厚Si-SiO2晶片以及可以分析10層薄膜的軟件。

　　為了滿(mǎn)足要求更高的應(yīng)用環(huán)境，NanoCalc系統(tǒng)可以與大量的擴(kuò)展軟件、光纖以及諸如掃描平臺(tái)、顯微鏡和微光斑聚焦裝置等測(cè)量附件一同使用。

　　在減反射硬質(zhì)涂層、太陽(yáng)能電池板上的非晶硅、OLED顯示面板、光刻膠等膜厚測(cè)量領(lǐng)域，NanoCalc系統(tǒng)將發(fā)揮尤為重要的作用。

　　客戶(hù)定制的NanoCalc系統(tǒng)還可以在現(xiàn)場(chǎng)、多點(diǎn)或者真空測(cè)量中實(shí)現(xiàn)附加的用戶(hù)控制。用戶(hù)可以自由選擇合適的光纖組件或者反射探頭。此外，用戶(hù)還可以通過(guò)其他軟件或者是利用軟件附加功能（包括遠(yuǎn)程控制、在線(xiàn)控制、掃描以及多層測(cè)量）控制NanoCalc的功能。